发明名称 |
一种利用氢气原位刻蚀提高氮化铝晶体质量的方法 |
摘要 |
本发明公开一种利用氢气原位刻蚀提高氮化铝晶体质量的方法。本发明方法是在MOCVD设备中进行的,包括烘烤、成核、第一次高温外延生长、原位刻蚀和第二次高温次外延生长五个阶段。本发明方法通过高温的原位刻蚀技术,在第一次高温外延层和第二次高温外延层之间形成密集的孔洞层,第二次高温外延生长时通过提升侧向生长速率,孔洞逐渐合并,在孔洞侧向合并时部分位错发生弯曲,最终相互湮灭,从而降低了外延层中的位错密度,提高外延层晶体质量;同时该孔洞层能有效释放异质外延产生的剩余应力,消除衬底剩余应力导致的外延层开裂的问题。 |
申请公布号 |
CN104911713A |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
CN201510114184.9 |
申请日期 |
2015.03.16 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
发明人 |
罗伟科;李亮;李忠辉 |
分类号 |
C30B29/40(2006.01)I;C30B25/02(2006.01)I;C30B33/12(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/40(2006.01)I |
代理机构 |
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 |
代理人 |
李昊 |
主权项 |
一种利用氢气原位刻蚀提高氮化铝晶体质量的方法,包括如下步骤:1)选择一衬底,转移入MOCVD系统中,升温对衬底进行烘烤;2)在衬底上沉积一层成核层;3)在所述成核层上用NH<sub>3</sub>与TMGa进行第一次高温外延层生长;4)在所述外延层上进行原位刻蚀,形成孔洞层;5)在所述孔洞层上用NH<sub>3</sub>与TMGa进行第二次高温外延层生长高质量氮化铝薄膜。 |
地址 |
210000 江苏省南京市白下区瑞金路街道中山东路524号 |