发明名称 一种集成电路的管脚复用的验证装置和验证方法
摘要 本发明提供一种集成电路的管脚复用的验证装置和验证方法,验证装置包括:记录存储模块,用于:存储每个管脚信息的数据表格;生成模块,用于:通过解析所述数据表格的脚本来生成测试向量;所述测试向量中包括可配置的管脚信号的激励验证值,以及不可配置的管脚信号的期望验证值;测试模块,用于:将所述可配置的管脚信号设置为所述激励验证值,获得所述不可配置的管脚信号的实际测量值,通过比较所述实际测量值与所述期望验证值获得验证结果。本发明能够减小管脚复用的出错几率,提高安全性,并节约时间和成本。
申请公布号 CN102169160B 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201010109937.4 申请日期 2010.02.08
申请人 无锡中星微电子有限公司 发明人 李树杰
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 黄灿
主权项 一种集成电路的管脚复用的验证装置,其特征在于,包括:记录存储模块,用于:存储每个管脚信息的数据表格;生成模块,用于:通过解析所述数据表格的脚本来生成测试向量;所述测试向量中包括可配置的管脚信号的激励验证值,以及不可配置的管脚信号的期望验证值;测试模块,用于:将所述可配置的管脚信号设置为所述激励验证值,获得所述不可配置的管脚信号的实际测量值,通过比较所述实际测量值与所述期望验证值获得验证结果;所述可配置的管脚信号包括:输入信号、测试模式选择信号、功能复用选择信号、输入输出控制信号、功能复用信号、测试模式数据源信号和/或功能复用模式信号源信号;所述不可配置的管脚信号包括:输出信号和目标信号。
地址 214028 中国江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园(创源大厦)610