发明名称 在矽沟槽中的三族氮化物装置;III-N DEVICES IN SI TRENCHES
摘要 一种包含一部份基板的沟槽被形成。一成核层系沈积于该沟槽内之该基板的该部份上。一三族氮化物材料层系沈积于该成核层上。该三族氮化物材料层系侧向地生长超过该沟槽。一装置层系沈积于该侧向生长的三族氮化物材料层上。一低缺陷密度区域系在该侧向生长材料上得到,其系并且使用于矽基板上之三族氮化物材料的电子装置制造。
申请公布号 TW201535516 申请公布日期 2015.09.16
申请号 TW103143329 申请日期 2014.12.11
申请人 英特尔股份有限公司 INTEL CORPORATION 发明人 达斯古塔 山萨塔克 DASGUPTA, SANSAPTAK;陈 汉威 THEN, HAN WUI;珈纳 萨纳斯 GARDNER, SANAZ K.;宋承宏 SUNG, SEUNG HOON;拉多撒福杰维克 马可 RADOSAVLJEVIC, MARKO;朱功 班杰明 CHU-KUNG, BENJAMIN;塔夫特 雪莉 TAFT, SHERRY R.;皮拉瑞斯提 拉维 PILLARISETTY, RAVI;乔 罗伯特 CHAU, ROBERT S.
分类号 H01L21/311(2006.01);H01L21/764(2006.01);H01L21/8258(2006.01) 主分类号 H01L21/311(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国 US