| 发明名称 | TEM原位观察材料基体/钝化膜界面结构的样品制备方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种TEM原位观察材料基体/钝化膜界面结构的样品制备方法，其包括：第一步，金相制样；第二步，离子溅射减薄；第三步，腐蚀金属试样，获得样品。本发明提供的TEM原位观察材料基体/钝化膜界面的样品制备方法，既避免了传统TEM制样方法对界面附近钝化膜的破坏作用，又解决了采用聚焦离子束制样操作复杂，成功率低的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN104913957A | 申请公布日期 | 2015.09.16 |
| 申请号 | CN201410574975.5 | 申请日期 | 2015.05.04 |
| 申请人 | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院 | 发明人 | 屈定荣;蒋秀;刘小辉 |
| 分类号 | G01N1/28(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I;G01Q30/20(2010.01)I | 主分类号 | G01N1/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人 | 汤东凤 |
| 主权项 | 一种TEM原位观察材料基体/钝化膜界面结构的样品制备方法，其特征在于，包括：第一步，金相制样；第二步，离子溅射减薄；第三步，腐蚀金属试样，获得样品。 | ||
| 地址 | 100728 北京市朝阳区朝阳门大街22号 | ||