发明名称 |
磁光检测装置 |
摘要 |
本发明涉及一种磁光检测装置,属于金属材料缺陷检测的技术领域。本发明的磁光检测装置,包括磁条移动机构,磁条移动机构包括磁条入口和磁条出口,在磁条入口和磁条出口之间具有磁条移动路径;在移动路径上方法设置有压板,在所述移动路径下方且面对所述压板的位置设置有磁光膜,磁光膜的下方设置有分光片、偏振光源以及摄像头;压板用于将所述磁条压合在所述磁光膜上,而偏振光源用于提供偏振光,所述偏振光通过分光片后照射到磁光膜上,磁光膜反射的光线经过分光片的折射后利用摄像头进行成像。本发明的磁光检测装置通过扫描金属表面的磁场信息,来判断并确定铁磁性金属表面的缺陷,由于磁场不受灰尘、油漆的影响,因此可以实现无损探测。 |
申请公布号 |
CN104914051A |
申请公布日期 |
2015.09.16 |
申请号 |
CN201510362058.5 |
申请日期 |
2015.06.26 |
申请人 |
北京锦润汇泽科技发展有限公司 |
发明人 |
殷涛;刘东平;牛建锋;王锴 |
分类号 |
G01N21/21(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/21(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种磁光检测装置,其特征在于:包括磁条移动机构,所述磁条移动机构包括磁条入口和磁条出口,在所述磁条入口和磁条出口之间具有磁条移动路径;在所述移动路径上方法设置有压板,在所述移动路径下方且面对所述压板的位置设置有磁光膜,磁光膜的下方设置有分光片、偏振光源以及摄像头;所述压板用于将所述磁条压合在所述磁光膜上,而所述偏振光源用于提供偏振光,所述偏振光通过分光片后照射到磁光膜上,磁光膜反射的光线经过分光片的折射后利用摄像头进行成像。 |
地址 |
100007 北京市东城区交道口北头条76号1331房间 |