发明名称 一种基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法
摘要 本发明公开的一种基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法,涉及一种用于红外成像领域的基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法,属于红外成像技术领域。本发明采用与入射辐射值相关的一点非均匀性校正模型,将带有边缘保护的空域低通滤波结果作为校正参考源对输入图像进行预校正。结合时域高通滤波计算每一帧的校正偏置值,根据每帧相同位置入射辐射的变化量改变偏置值与灰度的映射关系完成下一帧校正偏置值,消除校正过程中的“鬼影”,提高红外成像质量。本发明可减小实时化的红外成像系统非均匀性校正算法出现的“鬼影”和“过校正”出现的概率,提高红外成像质量,且计算量以及存储空间较少,方便硬件实现。
申请公布号 CN104917936A 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201510290343.0 申请日期 2015.05.29
申请人 北京理工大学 发明人 金伟其;金明磊;李亦阳;李硕;李力
分类号 H04N5/217(2011.01)I;H04N5/33(2006.01)I 主分类号 H04N5/217(2011.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法,其特征在于:采用与入射辐射值相关的一点非均匀性校正模型,将带有边缘保护的空域低通滤波结果作为校正参考源对输入图像进行预校正,校正参考源作为期望值用于防止“过校正”;结合时域高通滤波计算每一帧的校正偏置值,所述的校正偏置值实现方法为,根据每帧相同位置入射辐射的变化量改变偏置值与灰度的映射关系完成下一帧校正偏置值,消除校正过程中的“鬼影”,提高红外成像质量。
地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学