发明名称 超音波检查装置及超音波检查方法
摘要 应用具备阵列型探测件之超音波检查装置,而将工件之沾水限定于大致检查面。超音波检查装置(100),系具备:使检查面朝向下而保持工件(106)之工件保持件(105);就工件(106)以超音波作探触之阵列型探测件(107);将阵列型探测件(107)浸渍于水之水槽(109);于工件(106)之检查面的下方将阵列型探测件(107)以相对的方式而保持之臂件(116);及在因蓄于水槽(109)之水的表面张力使得液面接触于工件(106)之检查面的状态下,水平扫描工件(106)之X轴方向扫描手段(104A、104B)、及水平扫描阵列型探测件(107)之Y轴方向扫描手段(101)。
申请公布号 TW201534918 申请公布日期 2015.09.16
申请号 TW104104050 申请日期 2015.02.06
申请人 日立电力解决方案股份有限公司 HITACHI POWER SOLUTIONS CO., LTD. 发明人 大野茂 OONO, SHIGERU;住川健太 SUMIKAWA, KENTA
分类号 G01N29/04(2006.01);G01N29/26(2006.01);G01N29/32(2006.01) 主分类号 G01N29/04(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP