发明名称 半导体元件之监控方法
摘要
申请公布号 TWI499876 申请公布日期 2015.09.11
申请号 TW098142113 申请日期 2009.12.09
申请人 颖磐股份有限公司 发明人 张进祥
分类号 G05B19/048;H01L21/67 主分类号 G05B19/048
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 一种半导体元件之监控方法,以监控欲在一反应室中进行处理且由一承载架所承载之复数个半导体元件的数量,该半导体元件之监控方法至少包括:提供一监控设备,其中该监控设备至少包括一电荷耦合元件、与一处理器与该电荷耦合元件电性连接,以接收该电荷耦合元件所发出之影像讯号;将该承载架载入该反应室前,利用该监控设备对该承载架所承载之该些半导体元件进行一第一监控步骤,以取得该些半导体元件之一第一数量储存于该处理器中;将该承载架从该反应室载出后,利用该监控设备对该承载架所承载之该些半导体元件进行一第二监控步骤,以取得该些半导体元件之一第二数量储存于该处理器中;进行一比对步骤,以比对该第一数量与该第二数量;以及当该比对步骤中所比对之该第一数量与该第二数量不同时,表示该些半导体元件之至少一者掉落于该反应室内,而将该些半导体元件之该至少一者自该反应室中移除。
地址 高雄市楠梓区兴楠路203巷86号