供影像与ＣＡＤ对准使用之Ｐ型区域及Ｎ型区域差异化

主权项

一种用以将一半导体装置之影像，与该半导体装置之位元图〈bitmap〉代表影像，进行对准的方法，该方法包括：接收该半导体装置之至少一部份之扩散层资讯；接收该半导体装置之至少一部份之植入层资讯；从所接收之扩散层资讯及植入层资讯产生可区别的p型掺杂及n型掺杂区域资讯；产生该位元图代表影像，以包括该可区别的p型掺杂及n型掺杂区域间的差异；及执行将该半导体装置之影像，与该产生之位元图代表影像，进行对准之作业。