发明名称 评估装置及评估方法
摘要
申请公布号 TWI499772 申请公布日期 2015.09.11
申请号 TW098137997 申请日期 2009.11.10
申请人 尼康股份有限公司 发明人 深泽和彦;工藤佑司
分类号 G01N21/956 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种评估装置,其具备:照明部,系对具有经曝光装置之曝光而形成之既定反覆图案之基板表面照射偏光;测光件,抽出来自被照射该偏光之该基板表面之反射光中之既定振动方向之偏光成分;摄影部,系拍摄基于该测光件所抽出之该偏光成分之该基板的像;以及评估部,系根据以该摄影部拍摄之基于相异偏光成分之复数个该基板之影像,判别并评估曝光装置之曝光量与聚焦。
地址 日本