发明名称 半导体基底之制造方法
摘要
申请公布号 TWI500118 申请公布日期 2015.09.11
申请号 TW100140716 申请日期 2011.11.08
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 根井孝征;下村明久
分类号 H01L21/84 主分类号 H01L21/84
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种制造SOI基底的方法,包含:备置包括脆化区域的半导体基底;在该半导体基底上方形成氧化物绝缘层;将该半导体基底及支撑基底接合,其之间夹置该氧化物绝缘层;在该脆化区域断开该半导体基底,使半导体层设置在该支撑基底上,其之间夹置该氧化物绝缘层;以第一雷射光照射该半导体层的边缘部分,以在该半导体层的该边缘部分中形成多晶半导体区域;及在该第一雷射光照射该半导体层的该边缘部分之后,移除在该半导体层的一表面上方的氧化物层。
地址 日本