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经营范围
发明名称
半导体基底之制造方法
摘要
申请公布号
TWI500118
申请公布日期
2015.09.11
申请号
TW100140716
申请日期
2011.11.08
申请人
半导体能源研究所股份有限公司
发明人
根井孝征;下村明久
分类号
H01L21/84
主分类号
H01L21/84
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
一种制造SOI基底的方法,包含:备置包括脆化区域的半导体基底;在该半导体基底上方形成氧化物绝缘层;将该半导体基底及支撑基底接合,其之间夹置该氧化物绝缘层;在该脆化区域断开该半导体基底,使半导体层设置在该支撑基底上,其之间夹置该氧化物绝缘层;以第一雷射光照射该半导体层的边缘部分,以在该半导体层的该边缘部分中形成多晶半导体区域;及在该第一雷射光照射该半导体层的该边缘部分之后,移除在该半导体层的一表面上方的氧化物层。
地址
日本
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