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Es wird eine Technologie bereitgestellt für eine Prüfvorrichtung mit einer Projektionsvorrichtung (3) zum Projizieren von Musterlicht (3L) und einer schräg angeordneten Kamera (5), so dass eine verbesserte Messung der Form von Lötstellen realisiert werden kann. Wenn eine Beleuchtungsvorrichtung (1) mit Öffnungen (13) für Projektionsvorrichtungen (3) vorgesehen ist, dann sind die Öffnungen (13) in Azimutrichtungen ausgebildet, die sich von der X-Achsenrichtung und der Y-Achsenrichtung unterscheiden. Wenn sowohl eine Öffnung (13) für eine Projektionsvorrichtung als auch eine Öffnung (15) für eine schräg angeordnete Kamera (5) vorgesehen sind, dann sind diese in unterschiedlichen Azimutrichtungen ausgebildet. Alternativ dazu ist es auch möglich, eine ergänzende Beleuchtungsvorrichtung (6) vorzusehen, die Lücken im Beleuchtungslicht aufgrund der Öffnungen (13, 15) ergänzt. Alternativ dazu ist es auch möglich, die optischen Achsen der Projektionsvorrichtung (3) und der schräg angeordneten Kamera (5) aneinander anzupassen und eine gemeinsame Öffnung vorzusehen. |
