发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der Oberflächenstruktur und Beschaffenheit einer Probe |
摘要 |
Bei einem Verfahren zur Erfassung der Oberflächenstruktur und Beschaffenheit einer Probe mittels einer Abtasteinrichtung 2, insbesondere zur Erfassung von durch Berührung der Haut des menschlichen Körpers auf der Oberfläche eines Gegenstands hervorgerufene oder mittels eines Spurenträgers aufgenommene Spuren, wobei die Probe P und die Abtasteinrichtung 2 relativ zueinander bewegt werden, wird die Probenoberfläche mit einem von der Abtasteinrichtung 2 abgegebenen Licht- oder Laserstrahl L zeilenweise bestrahlt, der von der Probenoberfläche reflektierte Licht- oder Laserstrahl R erfasst und aus Abweichungen des reflektierten Licht- oder Laserstrahls R vom abgegebenen Licht- oder Laserstrahl (L) ein digitales Bild der Topographie der Probenoberfläche und der Intensität des reflektierten Licht- oder Laserstrahls (R) zur Darstellung der Beschaffenheit der Probenoberfläche erzeugt. |
申请公布号 |
DE102014203918(A1) |
申请公布日期 |
2015.09.10 |
申请号 |
DE201410203918 |
申请日期 |
2014.03.04 |
申请人 |
MARX, JÜRGEN |
发明人 |
MARX, JÜRGEN;EBERL, HEINRICH ALEXANDER |
分类号 |
G01B17/08;G01B11/24;G01N21/31;G01N21/3563 |
主分类号 |
G01B17/08 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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