发明名称 |
提高了板级可靠性的晶片级封装装置 |
摘要 |
本发明描述了一种晶片级封装装置、电子装置和用于制造该晶片级封装装置的制造方法,该方法包括在晶片级封装装置上形成暴露的引线末端,以便当将晶片级封装装置结合到另一电部件时提供焊料支撑结构。在各实现方式中,晶片级封装装置包括至少一个集成电路管芯、金属垫、第一电介质层、再分布层、第二电介质层、柱结构、模制层、柱层、和镀覆层,其中柱层被锯切以在晶片级封装装置的至少两个侧面上形成垫触头。暴露的垫触头便于形成焊料角焊缝和支撑结构,结果得到改善的板级可靠性。 |
申请公布号 |
CN104900544A |
申请公布日期 |
2015.09.09 |
申请号 |
CN201510093046.7 |
申请日期 |
2015.03.02 |
申请人 |
马克西姆综合产品公司 |
发明人 |
P·R·哈珀;M·梅森;A·V·萨莫伊洛夫 |
分类号 |
H01L21/60(2006.01)I;H01L23/492(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/60(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
李隆涛 |
主权项 |
一种晶片级封装装置,其包括:经处理的半导体晶片,其包括至少一个集成电路管芯;金属垫,其设置在所述至少一个集成电路管芯上;第一电介质层,其设置在所述至少一个集成电路管芯上以及所述金属垫的至少一部分上;再分布层,其至少部分地形成在所述金属垫和所述第一电介质层上;第二电介质层,其设置在所述第一电介质层上以及所述再分布层的一部分上;柱结构,其形成在所述再分布层上;模制层,其至少部分地形成在所述第二电介质层上;柱层,其形成在所述柱结构上;和镀覆层,其形成在所述柱层上。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |