发明名称 | 加工物件基础规格的检测方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种加工物件基础规格的检测方法,适用于板状的物件。该检测方法使用一摄影器材,该物件上定义有至少二参考点,该摄影器材具有至少二视窗,该些视窗内各定义有一校正点,且该些视窗的投影范围内各涵盖有一该参考点,各该视窗中的该参考点与该校正点互为对应;本发明加工物件基础规格的检测方法是使用一数值模拟技术,模拟该物件位于最佳的加工位置的情形,并通过该些参考点在该物件位于该最佳加工位置时与各自对应的该校正点之间的距离,判断该物件是否符合进行后续校正及加工的基础规格。 | ||
申请公布号 | CN104897070A | 申请公布日期 | 2015.09.09 |
申请号 | CN201410080865.3 | 申请日期 | 2014.03.07 |
申请人 | 达观科技有限公司 | 发明人 | 冯兆平 |
分类号 | G01B11/14(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/14(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 曹玲柱 |
主权项 | 一种加工物件基础规格的检测方法,其特征在于,应用于呈板状的一物件,用以判断该物件是否符合一适于进行后续校正及加工的基础规格,该物件预先置放于一初始位置,该物件定义有至少二参考点,该检测方法包括使用一摄影器材,该摄影器材具有至少二视窗,该些视窗的投影范围内各涵盖有一该参考点,且该些视窗中各定义有一校正点,各该视窗中的该参考点与该校正点互为对应,其中各该参考点与其所对应的该校正点在一投影平面上的距离定义为各该参考点的一偏差距离,该检测方法包含下列步骤:利用一数值模拟技术,模拟该物件移动至一校正位置的情形,其中该校正位置的定义,是指当该物件位于该校正位置时,该些参考点的各该偏差距离的平方和为最小;比较该些偏差距离与一门限值,借此判断该物件是否符合该基础规格。 | ||
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