| 发明名称 | 用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法。所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。本发明还涉及包括所述校准板的数码显微镜系统。 | ||
| 申请公布号 | CN104897051A | 申请公布日期 | 2015.09.09 |
| 申请号 | CN201410074532.X | 申请日期 | 2014.03.03 |
| 申请人 | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 | 发明人 | 李仲禹;王明思;顾海磊 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 万柳军;吴鹏 |
| 主权项 | 一种用于对数码显微镜进行测量校准的校准板，所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。 | ||
| 地址 | 德国耶拿 | ||