发明名称 |
三维漏磁检测缺陷轮廓重构方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种三维漏磁检测缺陷轮廓重构方法及装置,其中,方法包括以下步骤:构建正向有限元计算模型;提取缺陷漏磁场的特征值;根据特征值得到缺陷轮廓参数的初始估计值,并将初始估计值作为输入值代入有限元计算模型进行迭代计算得到漏磁场预测值,其中,通过启发式优化算法更新缺陷轮廓参数,以获取缺陷轮廓参数期望值实现缺陷重构。本发明实施例的方法可以提高缺陷重构效率,具有稳定性好、计算准确、速度快的优点,从而有利于提高各种不规则缺陷的重构速度和精度。 |
申请公布号 |
CN104897771A |
申请公布日期 |
2015.09.09 |
申请号 |
CN201510239389.X |
申请日期 |
2015.05.12 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
黄松岭;赵伟;王珅;邹军 |
分类号 |
G01N27/83(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/83(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种三维漏磁检测缺陷轮廓重构方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,根据漏磁检测模型构建正向有限元计算模型,其中,所述正向有限元计算模型将缺陷轮廓参数作为输入值,漏磁信号序列作为输出值;S2,利用三轴磁传感器阵列测量缺陷漏磁场以提取所述缺陷漏磁场的特征值;以及S3,根据所述缺陷漏磁场的特征值得到缺陷轮廓参数的初始估计值,并将所述缺陷轮廓参数的初始估计值作为输入值代入所述有限元计算模型进行迭代计算得到漏磁场预测值,其中,通过启发式优化算法更新所述缺陷轮廓参数直至缺陷漏磁场测量值与所述漏磁场预测值之间的误差的绝对值小于或等于预设的误差阈值,以获取缺陷轮廓参数期望值实现缺陷重构。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084-82信箱 |