发明名称 一种防止SPI FLASH开关机时数据破坏的系统及方法
摘要 本发明提供一种防止SPI FLASH开关机时数据破坏的系统及方法,设置在系统电源与SPI FLASH之间,包括电源采样模块、上电电压处理模块、下电电压处理模块和组合逻辑模块;电源采样模块分别与系统电源、上电电压处理模块和下电电压处理模块相连;上电电压处理模块和下电电压处理模块均与组合逻辑模块相连;组合逻辑模块再与SPI FLASH相连,当系统电源的上电电压低于上电参考电压或者下电电压低于下电参考电压时,SPI FLASH处于写保护状态。本发明的防止SPI FLASH开关机时数据破坏的系统及方法解决了开关机噪声带来的数据破坏风险;根据不同的系统灵活地设定系统上电和下电触发保护的时间,提升了系统的稳定性。
申请公布号 CN104900264A 申请公布日期 2015.09.09
申请号 CN201510359032.5 申请日期 2015.06.25
申请人 上海斐讯数据通信技术有限公司 发明人 文君
分类号 G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/06(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 高园园
主权项 一种防止SPI FLASH开关机时数据破坏的系统,其特征在于:设置在系统电源与SPI FLASH之间,包括电源采样模块、上电电压处理模块、下电电压处理模块和组合逻辑模块;所述电源采样模块用于对系统电源进行采样,以获取上电采样电压或下电采样电压;所述上电电压处理模块与所述电源采样模块相连,包括相连的第一迟滞比较器和第一可编程延时电路;所述第一迟滞比较器用于比较上电采样电压和上电参考电压,并将比较结果输入所述第一可编程延时电路;所述第一可编程延时电路用于对所述第一迟滞比较器的比较结果进行延时第一时间;所述下电电压处理模块与所述电源采样模块相连,包括相连的第二迟滞比较器和第二可编程延时电路;所述第二迟滞比较器用于比较下电采样电压和下电参考电压,并将比较结果输入所述第二可编程延时电路;所述第二可编程延时电路用于对所述第二迟滞比较器的比较结果进行延时第二时间;所述组合逻辑模块分别与所述上电电压处理模块和所述下电电压处理模块相连,用于根据所述上电电压处理模块或所述下电电压处理模块的输出,当系统电源的上电电压低于上电参考电压或者下电电压低于下电参考电压时,输出禁能信号至SPI FLASH的写保护引脚,使得SPI FLASH处于写保护状态。
地址 201616 上海市松江区思贤路3666号