发明名称 |
半导体元件及其制造方法以及半导体层的结构 |
摘要 |
本发明提供一种半导体元件及其制造方法以及半导体层的结构。半导体元件的制造方法包括以下步骤。先于鳍状结构的侧壁形成间隙壁,再除去部分的鳍状结构而形成凹洞,所述凹洞暴露出间隙壁的内侧壁的至少一部分。接著基于剩余的鳍状结构进行外延制作工艺,以形成半导体层。所述半导体层具有铲状截面,所述铲状截面包括:位于所述凹洞中的柄部,以及与所述柄部连续的铲面部。本发明并提供一种半导体元件,其包括:上述间隙壁、上述剩余的鳍状结构,以及上述半导体层。 |
申请公布号 |
CN104900525A |
申请公布日期 |
2015.09.09 |
申请号 |
CN201410082753.1 |
申请日期 |
2014.03.07 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
廖晋毅;刘升旭 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/26(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
陈小雯 |
主权项 |
一种半导体元件的制造方法,其特征在于包括:于鳍状结构的侧壁形成间隙壁;除去部分的所述鳍状结构而形成凹洞,所述凹洞暴露出所述间隙壁的内侧壁的至少一部分;以及基于剩余的所述鳍状结构进行外延制作工艺,以形成半导体层,所述半导体层具有铲状截面,所述铲状截面包括:位于所述凹洞中的柄部,以及与所述柄部连续的铲面部。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |