| 摘要 |
<p>La présente invention concerne un procédé de test d'un système électronique (5). Durant une session de tests de ce procédé, on réalise un cas nominal de test conduisant à la mémorisation d'au moins une sortie nominale de test, puis on réalise au moins un cas de test conduisant à la mémorisation d'au moins une sortie de test. On stocke automatiquement dans une mémoire de test une différence de test existant entre la sortie nominale de test et la sortie de test, et une comparaison de test existant entre la différence de test et une différence de référence correspondante déterminée durant une session de tests de référence.</p> |
