| 发明名称 | 一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统，该方法包括：根据至少一个半导体单胞器件的本征数据，获取由至少一个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据；获取所述半导体器件的寄生仿真数据；根据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数据，建立所述半导体器件的查表模型。本发明提供的一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统，能够减少仿真运算的数据量、缩短仿真运算的时间和降低仿真中器件布局的复杂度。 | ||
| 申请公布号 | CN104881508A | 申请公布日期 | 2015.09.02 |
| 申请号 | CN201410708276.5 | 申请日期 | 2014.11.27 |
| 申请人 | 苏州能讯高能半导体有限公司 | 发明人 | 张乃千;裴轶 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 路凯;杨生平 |
| 主权项 | 一种基于查表法的半导体器件的建模方法，其特征在于，包括：根据至少一个半导体单胞器件的本征数据，获取由至少一个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据；获取所述半导体器件的寄生仿真数据；根据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数据，建立所述半导体器件的查表模型。 | ||
| 地址 | 215300 江苏省苏州市昆山市高新区晨丰路18号 | ||