| 发明名称 | 检测芯片的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种检测芯片的方法，其包含：提供多个芯片，包含至少一第一部分芯片；以及以一非人工方式判断每一个些多个芯片，包含提供一第一检测条件判断每一个些多个芯片，筛选出些第一部分芯片，其中些第一部分芯片通过第一检测条件，以及提供一第二检测条件判断每一个些第一部分芯片为一第一类芯片或一第二类芯片，其中第二检测条件较第一检测条件包含较多的项目或较窄的范围。 | ||
| 申请公布号 | CN104880466A | 申请公布日期 | 2015.09.02 |
| 申请号 | CN201410071606.4 | 申请日期 | 2014.02.28 |
| 申请人 | 晶元光电股份有限公司 | 发明人 | 林徐振;陈明玉 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 陈小雯 |
| 主权项 | 一种检测芯片的方法，包含：提供多个芯片，包含至少一第一部分芯片；以及以一非人工方式判断每一个该些多个芯片，包含提供一第一检测条件判断每一个该些多个芯片，筛选出该些第一部分芯片，其中该些第一部分芯片通过该第一检测条件，以及提供一第二检测条件判断每一个该些第一部分芯片为一第一类芯片或一第二类芯片，其中该第二检测条件较该第一检测条件包含较多的项目或较窄的范围。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||