发明名称 一种基于深亚微米CMOS工艺的横向MOM电容
摘要 本发明公开了一种基于深亚微米CMOS工艺的横向MOM电容。这种电容结构兼容于标准CMOS工艺,不需要额外的掩膜层支持,该电容可代替代工厂提供的MIM(Metal-Insulator-Metal)电容,从而避免了使用MIM电容时因增加的额外掩膜层CTM层密度不足造成芯片生产时良率降低的问题。这种电容由多层金属堆叠组成,金属层采用工艺允许的最小宽度,金属层间距采用工艺允许的最小距离,保证在最小的面积内获得最大的电容。
申请公布号 CN104882430A 申请公布日期 2015.09.02
申请号 CN201410427404.9 申请日期 2014.08.27
申请人 北京中电华大电子设计有限责任公司 发明人 赵鹏辉;张建平;李罗生
分类号 H01L23/522(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于深亚微米CMOS工艺的横向MOM电容,该电容由多层金属堆叠而成,同一层金属采用工艺允许的最小宽度和最小间距,同层相邻的金属和层间介质构成横向电容C,同层金属中包含多个横向电容C,多层的多个横向电容C并联构成横向MOM电容,不同层金属两侧垂直相连的金属构成横向MOM电容的金属互联区,水平排布的横向电容C构成横向MOM电容的电容区,不同层金属在金属互联区通过金属VIA相连,不同层金属在电容区无连接。
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