发明名称 具有垂直沟道的隧穿晶体管、可变电阻存储器及制造方法
摘要 一种隧穿晶体管,包括:半导体衬底,源极在半导体衬底上形成在上部区域中,并且半导体衬底具有第一半导体材料层;柱体,其形成在半导体衬底上,并且具有顺序层叠有沟道层和漏极的结构;栅极,其形成为包围柱体的周缘;以及第二半导体材料层,其构成源极的一部分、形成在源极和沟道层之间、具有与源极相同的导电类型、并且具有比第一半导体材料层更小的带隙。其中,源极和漏极具有相反的导电类型。
申请公布号 CN104882480A 申请公布日期 2015.09.02
申请号 CN201410610790.5 申请日期 2014.11.03
申请人 爱思开海力士有限公司 发明人 朴南均
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人 俞波;许伟群
主权项 一种隧穿晶体管,包括:半导体衬底,其具有形成在上部区域中的源极,并且包括第一半导体材料层;柱体,其形成在所述半导体衬底上,并且具有顺序层叠的沟道层和漏极;栅极,其形成为包围所述柱体;以及第二半导体材料层,其形成在所述源极和所述沟道层之间,所述第二半导体材料层具有与所述源极相同的导电类型,并且具有比所述第一半导体材料层更低的带隙,其中,所述源极和所述漏极具有彼此相反的导电类型。
地址 韩国京畿道
您可能感兴趣的专利