发明名称 CHUNK POLYCRYSTALLINE SILICON AND PROCESS FOR CLEANING POLYCRYSTALLINE SILICON CHUNKS
摘要 본 발명은 0.5-35 ppbw의 표면에서의 탄소의 농도를 갖는 청크 다결정 실리콘을 제공한다. 또한, 본 발명은 표면에 탄소 오염을 갖는 다결정 실리콘 청크를 세정하는 공정으로서, 350 내지 600℃의 온도에 있는 반응기에서 다결정 실리콘 청크의 열 처리를 포함하고, 다결정 실리콘 청크는 열 처리 동안 불활성 가스 분위기 중에 존재하며, 그리고 열 처리 후 다결정 실리콘 청크는 0.5-35 ppbw의 표면에서의 탄소 농도를 갖는 것인 공정을 제공한다.
申请公布号 KR101549734(B1) 申请公布日期 2015.09.02
申请号 KR20130018806 申请日期 2013.02.21
申请人 와커 헤미 아게 发明人 트라운스푸르거 게르하르트;패브리 라스츨로;페흐 라이너
分类号 C01B33/02;C30B29/34 主分类号 C01B33/02
代理机构 代理人
主权项
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