测量准一维导电材料热导率的方法及装置

摘要

本发明公开了一种测量准一维导电材料的热导率的方法和装置。包括：将具有长度L和横截面S的悬空段的准一维导电材料置于T₀的环境中；施加电流I通过悬空段对其升温至热平衡；利用工作电流测量处于热平衡的悬空段的R；改变电流I以获得悬空段与多个不同电流I对应的多个R；利用多个电流I和对应的多个R进行I²与1/R的线性拟合，并根据结果获得1/R随I²的变化率k和截距1/R₀，进而得到悬空段未产生热效应时的电阻值R₀；根据悬空段的长度L和横截面S、相对斜率k、电阻值R₀和电阻R随温度T的线性变化率B，确定悬空段在T₀下的表观热导率λ’。该方法简便、低廉、高效，可应用于微纳米导电纤维及导电薄膜热导率的测量中。

主权项

一种测量准一维导电材料的热导率的方法，包括：将所述准一维导电材料放置在环境温度值为T₀的周围环境中，并使其具有悬空段，所述悬空段具有长度值L和横截面积值S；施加具有电流值I的工作电流通过所述悬空段，以加热所述悬空段使其升温，直至所述悬空段达到热平衡状态；并且，利用所述工作电流测量处于所述热平衡状态的所述悬空段的电阻值R；通过改变所述工作电流的所述电流值I，以获得所述悬空段的与多个不同电流值I对应的多个电阻值R；利用所述多个电流值I和对应的多个电阻值R，进行I²与1/R之间的线性拟合，并根据拟合结果获得1/R随I²的变化率k，以及截距1/R₀，进而得到所述悬空段未产生热效应时的电阻值R₀；和根据所述悬空段的所述长度值L和所述横截面积值S、所述相对斜率k、所述电阻值R₀、和预先确定的所述悬空段的电阻值R随所述悬空段的温度T的线性变化率B，确定所述悬空段在当前环境温度值T₀下的表观热导率λ’。