发明名称 |
半导体装置 |
摘要 |
本实用新型的实施方式提供一种可谋求容易确认产品性能的半导体装置。根据一实施方式,半导体装置包括:第一衬底,具有第一面、及位于与该第一面相反侧的第二面;电子零件,设置在所述第一衬底的所述第一面;第一焊垫,设置在所述第一衬底的第一面;以及第二焊垫,设置在所述第一衬底的第二面,且电连接于所述第一焊垫。 |
申请公布号 |
CN204614457U |
申请公布日期 |
2015.09.02 |
申请号 |
CN201520126695.8 |
申请日期 |
2015.03.04 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
松本学;小泽勲 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
张世俊 |
主权项 |
一种半导体装置,其特征在于包括:衬底,包括第一面、及位于与该第一面相反侧的第二面;接口部,设置在所述衬底,且能于与主机装置之间流通信号;多个第一焊垫,设置在所述衬底的第一面,并且电连接于所述接口部;多个第二焊垫,设置在所述衬底的第一面,并且与所述接口部电绝缘;电子零件,包括:半导体存储器;控制器,控制该半导体存储器;密封部,一体地密封所述半导体存储器及所述控制器;多个第一焊料部,电连接于所述控制器并且设置在所述第一焊垫;以及多个第二焊料部,电连接于所述控制器并且设置在所述第二焊垫;以及多个第三焊垫,设置在所述衬底的第二面,并且分别电连接于所述多个第二焊垫。 |
地址 |
日本东京 |