| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Charakterisierung von Nanopartikeln (30) in einer Probe, die eine Messplatte (20), eine Lichtquelle (50), eine Detektorvorrichtung (70) und eine Messschicht (50), welche eine Metallschicht (10) und eine raman-aktive Schicht (15) beinhaltet, umfasst. Die Metallschicht (10) und die raman-aktive Schicht (15) sind so zueinander angeordnet, dass die raman-aktive (15) Schicht den Nanopartikeln (30) zugewandt und mit diesen kontaktierbar angeordnet ist. Durch die raman-aktive Schicht (15) zwischen der Metallschicht (10) und den Nanopartikeln (30) wirken diese als Resonatorstruktur für elektromagnetische Strahlung und bewirken eine lokale Verstärkung des Ramansignals der raman-aktiven Schicht (15). |
