发明名称 一种测试装置
摘要 本发明提供了一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置,该测试装置包括,遮光箱的第一内壁上设置有第一测试图样;以及第一半穿半反式光学元件,与该第一测试图样相对设置,具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路,经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时,第一反射光线入射至该第一拍摄装置、该第一透射光线至该第二拍摄装置。
申请公布号 CN103207061B 申请公布日期 2015.09.02
申请号 CN201310103742.2 申请日期 2013.03.27
申请人 苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司 发明人 谢泳村;林志颖
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置,其特征在于,该测试装置包括,遮光箱,其具有第一内壁,该第一内壁上设置有第一测试图样,用于供该拍摄装置拍摄;以及第一半穿半反式光学元件,与该第一测试图样相对设置,该第一半穿半反式光学元件具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路,经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时,经该第一测试图样的光线经该第一光学临界面反射该第一反射光线至该第一拍摄装置、且透射该第一透射光线至该第二拍摄装置。
地址 215011 江苏省苏州市高新区珠江路169号