发明名称 |
用于3D记忆体应用的PECVD氧化物-氮化物及氧化物-矽堆叠 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI498943 |
申请公布日期 |
2015.09.01 |
申请号 |
TW100135318 |
申请日期 |
2011.09.29 |
申请人 |
应用材料股份有限公司 |
发明人 |
拉札高帕蓝纳卡拉詹;韩新海;朴智爱;清原勉;朴素贤;金秉宪 |
分类号 |
H01L21/205;H01L21/31;C23C16/44 |
主分类号 |
H01L21/205 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
一种用于沉积一材料层堆叠的方法,包含:(a)将一基板放到一电浆增强化学气相沈积(PECVD)腔室;(b)激发一第一处理气体而形成一第一电浆;(c)从该第一电浆沉积一层一第一材料至该基板上,该层该第一材料在一第一方向具有一第一应力;(d)电浆净化该PECVD腔室,及利用该电浆净化,露出待调理供沉积用的该第一材料的一表面;(e)气体净化该PECVD腔室,以移除所有气体污染物;(f)激发一第二处理气体而形成一第二电浆;(g)从该第二电浆沉积一层一第二材料至该基板上,该层该第二材料在一第二方向具有一第二应力,该第二方向相反于该第一方向;(h)电浆净化该PECVD腔室,及利用该电浆净化,露出待调理供沉积用的该第二材料的一表面;(i)气体净化该PECVD腔室,以移除气体污染物;(j)在该等步骤(b)至(i)的整个过程,维持该PECVD腔室中的一真空;以及(k)反覆进行该等步骤(b)至(j),直到该基板上已沉积一预定层数的该第一材料和该第二材料,及该基板之一上表面是平坦的。
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地址 |
美国 |