发明名称 制备薄膜电晶体阵列之方法;METHOD OF PREPARING ARRAY OF THIN FILM TRANSISTOR
摘要 本发明揭示一种制备薄膜电晶体阵列之方法。具体言之,本发明揭示一种蚀刻剂组成物,其包括:5wt%至25wt%过氧化氢;0.05wt%至1wt%含氟化合物;0.5wt%至3wt%芳族有机酸或其盐;及余量水,从而选择性地蚀刻钼基金属膜或金属氧化物膜,及一种使用该组成物制备薄膜电晶体阵列之方法。; 0.05 to 1 wt.% of a fluorine-containing compound; 0.5 to 3 wt.% of aromatic organic acid or a salt thereof; and the balance of water, so as to selectively etch a molybdenum-based metal film or metal oxide film, and a method of preparing an array of a thin film transistor using the same.
申请公布号 TW201533273 申请公布日期 2015.09.01
申请号 TW103140359 申请日期 2014.11.21
申请人 东友精细化工有限公司 DONGWOO FINE-CHEM CO., LTD. 发明人 金鎭成 KIM, JIN SUNG;梁圭亨 YANG, GYU HYUNG;李铉奎 LEE, HYUN KYU
分类号 C23F1/16(2006.01);H01L21/306(2006.01) 主分类号 C23F1/16(2006.01)
代理机构 代理人 阎启泰林景郁
主权项
地址 南韩 KR