| 发明名称 |
半导体记忆装置及抹除方法;SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ERASING METHOD |
| 摘要 |
一种可靠性高的资料抹除的半导体记忆装置及抹除方法。抹除方法是用以抹除形成有具有NAND串的记忆体阵列的半导体记忆装置。对NAND串的选择电晶体的闸极施加预定电位，且对NAND串的记忆胞的字元线施加预定电位。对形成有NAND串的基板区域，在第1时刻施加抹除电压，且在自第1时刻起固定时间后的第2时刻，使选择电晶体的闸极浮置。 |
| 申请公布号 |
TW201533744 |
申请公布日期 |
2015.09.01 |
| 申请号 |
TW103106816 |
申请日期 |
2014.02.27 |
| 申请人 |
华邦电子股份有限公司 WINBOND ELECTRONICS CORP. |
发明人 |
妹尾真言 SENOO, MAKOTO |
| 分类号 |
G11C16/14(2006.01);G11C16/06(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/14(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
叶璟宗詹东颖刘亚君 |
| 主权项 |
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| 地址 |
台中市大雅区科雅一路8号 TW |
