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经营范围
发明名称
空气间隙形成用二氧化矽系膜形成材料及空气间隙之形成方法
摘要
申请公布号
TWI498393
申请公布日期
2015.09.01
申请号
TW100103109
申请日期
2011.01.27
申请人
东京应化工业股份有限公司
发明人
泽田佳宏
分类号
C09D183/04;H01L21/764
主分类号
C09D183/04
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
一种二氧化矽系膜之形成材料,其系含有(a)以下述通式(a-1)所示之矽烷化合物水解缩合而成之矽氧烷聚合物,且前述矽氧烷聚合物之质量平均分子量为6,000以上1,000,000以下、(b)0.1质量%以上3质量%以下之烷醇胺、及(c)有机溶剂;【化1】R1nSi(OR2)4-n(a-1)[通式(a-1)中,R1为氢原子或碳数1以上20以下之烷基或芳基,R2为一价之有机基,n表示0以上2以下之整数]。
地址
日本
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