发明名称 氮氧化矽膜及其制造方法、电晶体;SILICON OXYNITRIDE FILM AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, TRANSISTOR
摘要 本发明提供一种绝缘特性优异、可较佳地用作电晶体的闸极绝缘膜的氮氧化矽膜及其制造方法、以及电晶体。本发明的氮氧化矽膜是使用矽氮烷化合物所制作的氮氧化矽膜,且藉由FT-IR测定所得的吸收光谱中的来自Si-N键的吸收强度(ISi-N)与来自Si-O键的吸收强度(ISi-O)的比(ISi-N/ISi-O)为1.00以上。
申请公布号 TW201533441 申请公布日期 2015.09.01
申请号 TW104103117 申请日期 2015.01.30
申请人 富士软片股份有限公司 FUJIFILM CORPORATION 发明人 梅田贤一 UMEDA, KENICHI;田中淳 TANAKA, ATSUSHI;铃木真之 SUZUKI, MASAYUKI;下田达也 SHIMODA, TATSUYA;井上聡 INOUE, SATOSHI
分类号 G01N21/31(2006.01);G01N21/35(2014.01);H01L29/786(2006.01);H01L21/31(2006.01) 主分类号 G01N21/31(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗郑婷文詹富闵
主权项
地址 日本 JP