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<p>메모리 시스템, 메모리 테스트 시스템 및 이의 테스트 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 메모리 테스트 시스템은 메모리; 상기 메모리를 테스트하기 위한 클럭 신호 및 테스트 신호를 생성하는 테스터; 및 각각 상기 클럭 신호 및 상기 테스트 신호를 광 신호로 변환하여 광 클럭 신호 및 광 테스트 신호로 출력하는 전기-광 신호 변환부, 각각 상기 광 클럭 신호 및 상기 광 테스트 신호를 n개로 분기시키는 광 신호 분기부와, 분기된 광 클럭 신호 및 분기된 광 테스트 신호를 수신하여 상기 메모리에서 사용되는 전기 신호로 변환하는 광-전기 신호 변환부를 포함하는 광분기 모듈을 구비한다.</p> |
