发明名称 Halbleitervorrichtungen und Verfahren zur Ausbildung davon
摘要 <p>Gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weist ein Verfahren zum Ausbilden einer Halbleitervorrichtung ein Ausbilden eines Vorrichtungsbereichs (110) in einem Substrat (100) auf. Der Vorrichtungsbereich (110) erstreckt sich durchgängig von einer Seitenwand des Substrats (100) zu einer gegenüberliegenden Seitenwand des Substrats (100). Das Verfahren weist ferner ein Ausbilden von Gräben (50) in dem Substrat (100) auf. Die Gräben (50) teilen den Vorrichtungsbereich (110) in aktive Bereiche. Das Verfahren weist ferner ein Vereinzeln des Substrats (100) durch Trennen des Substrats (100) entlang der Gräben (50) auf.</p>
申请公布号 DE102015102579(A1) 申请公布日期 2015.08.27
申请号 DE201510102579 申请日期 2015.02.24
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 GOETZ, ISABELLA;SCHMENN, ANDRE;SOJKA, DAMIAN
分类号 H01L21/78;H01L21/306;H01L21/764 主分类号 H01L21/78
代理机构 代理人
主权项
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