发明名称 | 隐藏危险品检测方法及设备 | ||
摘要 | 本发明涉及隐藏危险品检测方法及设备。本发明的隐藏危险品检测方法包括:对被测物体进行太赫兹成像;判断太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域;对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量,根据多波长光谱分析测量结果鉴别所述可疑区域中是否包含危险品;以及输出被测物体图像和危险品检测结果。还披露了一种用于实施本发明的隐藏危险品检测方法的设备。本发明的隐藏危险品检测方法及设备可同时从形状特征和物质成分的角度实现对隐藏危险品的鉴别,检测准确性大大增加。 | ||
申请公布号 | CN102759753B | 申请公布日期 | 2015.08.26 |
申请号 | CN201110110590.X | 申请日期 | 2011.04.29 |
申请人 | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 | 发明人 | 赵自然;王迎新;陈志强;吴万龙 |
分类号 | G01V3/12(2006.01)I | 主分类号 | G01V3/12(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 原绍辉 |
主权项 | 一种对隐藏危险品进行检测的方法,所述方法包括以下步骤:对被测物体进行太赫兹成像;判断通过太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域;对藏有危险品的可疑区域进行在一系列分立波段条件下的多波长光谱分析测量,根据多波长光谱分析测量结果识别所述可疑区域中所包含的危险品,其中对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量的步骤进一步包括选取所述可疑区域内某一感兴趣点,对该感兴趣点进行多波长光谱分析测量,建立太赫兹多波长反射光谱识别模型,运用模式识别方法识别可疑区域内所包含的危险品;以及输出被测物体太赫兹图像和危险品识别结果。 | ||
地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |