发明名称 |
光学系统和光学检测装置以及检测方法 |
摘要 |
本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测,该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件,在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件,及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测,该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。 |
申请公布号 |
CN102749332B |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201110096267.1 |
申请日期 |
2011.04.18 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
陶立;宋桂菊;凯文.G.哈丁;杨东民;翟梓融;韩杰;吉尔.阿布拉莫维奇 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
彭久云 |
主权项 |
一种光学系统,该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测,该待测对象的位置相对于光学系统可以变化,其特征在于:该光学系统包括:偏光元件,该偏光元件用于将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光;旋光元件,该旋光元件用于在控制信号的作用下旋转该线性偏振光的偏振状态;以及透镜群组,该透镜群组包括至少一个双折射元件,该双折射元件用于以第一折射率对旋光后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测,该双折射元件还用于以第二折射率对旋光后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测;其中,该光学系统还包括可调孔径光阑,该可调孔径光阑具有第一孔径尺寸和第二孔径尺寸,该第一孔径尺寸与该透镜群组的第一聚焦模式对应,该第二孔径尺寸与该透镜群组的第二聚焦模式对应。 |
地址 |
美国纽约州 |