发明名称 |
一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法 |
摘要 |
本发明公开一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法。本发明利用X射线荧光光谱仪测定已知铝形态的标准样品中AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值,作为铝形态分析的依据,将测定的腐竹样品中AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值与其比较,确定腐竹样品中铝的形态。本发明操作简单快速、测定准确,能满足大批量出口腐竹快速检测的要求。 |
申请公布号 |
CN104865285A |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201510259585.3 |
申请日期 |
2015.05.20 |
申请人 |
中华人民共和国防城港出入境检验检疫局 |
发明人 |
唐梦奇;田继军 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市诺正专利商标代理事务所(普通合伙) 44336 |
代理人 |
邹蓝;沈艳尼 |
主权项 |
一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法,其特征包括以下步骤:(1)含铝标准样品的选择及制备选取铝形态是已知的标准样品,将标准样品在玛瑙研钵中研磨成200目以上均匀粉末,取适量粉末置入压片机模具内,压制成测试片,放入干燥器中保存待测;(2)测量条件的确定选取合适的准直器、探测器及分光晶体,确定仪器测量的激发电压和电流、扫描类型及扫描范围;(3)标准样品AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值的测定按确定的测量条件测定含不同铝形态的标准样品AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值,记录保存作为铝形态分析的依据;(4)腐竹样品铝形态的测定将腐竹样品按步骤(1)制备成测试片,按步骤(3)测定AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值,将腐竹样品2θ值与步骤(3)测定的各标准样品2θ值比较,与哪种标准样品2θ值相同,则腐竹样品中铝形态与该标准样品中铝形态一样。 |
地址 |
538000 广西壮族自治区防城港市港口区兴港大道91号 |