发明名称 |
IGBT高压阻断测试工装 |
摘要 |
一种IGBT高压阻断测试工装,其包括工装主体、设于工装主体上的金属铜板、设于工装主体外围的环形轨道、设于工装主体上的真空气孔及能在环形轨道内移动的测试针组件,所述工装上表面为操作平台,所述测试针组件包括设于环形轨道内的底座及与底座连接的测试针。本发明设计的IGBT高压阻断测试工装可以对芯片反向耐压,子单元反向耐压,模块反向耐压及绝缘进行简单的测试。在生产过程中使用此工装对芯片的筛选和子单元的筛选非常方便。 |
申请公布号 |
CN104865512A |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201410066723.1 |
申请日期 |
2014.02.26 |
申请人 |
西安永电电气有限责任公司 |
发明人 |
任杰 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I;G01R1/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
常亮 |
主权项 |
一种IGBT高压阻断测试工装,其特征在于:其包括工装主体、设于工装主体上的金属铜板、设于工装主体外围的环形轨道、设于工装主体上的真空气孔及能在环形轨道内移动的测试针组件,所述工装上表面为操作平台,所述测试针组件包括设于环形轨道内的底座及与底座连接的测试针。 |
地址 |
710016 陕西省西安市经开区文景北路15号 |