发明名称 IGBT高压阻断测试工装
摘要 一种IGBT高压阻断测试工装,其包括工装主体、设于工装主体上的金属铜板、设于工装主体外围的环形轨道、设于工装主体上的真空气孔及能在环形轨道内移动的测试针组件,所述工装上表面为操作平台,所述测试针组件包括设于环形轨道内的底座及与底座连接的测试针。本发明设计的IGBT高压阻断测试工装可以对芯片反向耐压,子单元反向耐压,模块反向耐压及绝缘进行简单的测试。在生产过程中使用此工装对芯片的筛选和子单元的筛选非常方便。
申请公布号 CN104865512A 申请公布日期 2015.08.26
申请号 CN201410066723.1 申请日期 2014.02.26
申请人 西安永电电气有限责任公司 发明人 任杰
分类号 G01R31/26(2014.01)I;G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 常亮
主权项 一种IGBT高压阻断测试工装,其特征在于:其包括工装主体、设于工装主体上的金属铜板、设于工装主体外围的环形轨道、设于工装主体上的真空气孔及能在环形轨道内移动的测试针组件,所述工装上表面为操作平台,所述测试针组件包括设于环形轨道内的底座及与底座连接的测试针。
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