用于确定半桥电路的故障状态的方法和电路单元

摘要

本申请的主题涉及一种用于确定具有至少一个第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且可分别借助于控制信号控制，并且其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态。确定第一半导体开关（HS1）的实际开关状态和理论开关状态。此外确定第二半导体开关（HS2）的实际开关状态和理论开关状态。此外，如果第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么识别出半桥电路（HBS）中的桥短路。

主权项

用于确定具有第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且分别借助于控制信号可控，并且其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态，并且其中所述方法具有下述方法步骤：‑ 确定所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态和理论开关状态，‑ 确定所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态和理论开关状态，‑ 如果所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么识别出所述半桥电路（HBS）中的桥短路。