发明名称 检测发光器件混色缺陷的装置
摘要 本实用新型提供的检测发光器件混色缺陷的装置,涉及半导体器件制造领域,通过增设光源及与其匹配的滤镜,即可在对诸如OLED等发光器件的混色缺陷检测工艺中,利用该光源及滤镜对发光区以外的区域所产生的干扰光线进行互补,以消除该干扰光线,进而使得采集的图像中,将发光区图像与其他区域图像予以区分,进而消除混色等缺陷,在增强后续对发光范围的分析判定精准度的同时,还大大提高了检测工艺的工作效率。
申请公布号 CN204596753U 申请公布日期 2015.08.26
申请号 CN201520154803.2 申请日期 2015.03.18
申请人 上海和辉光电有限公司 发明人 颜圣佑;许嘉哲;吴思宗
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海申新律师事务所 31272 代理人 吴俊
主权项 一种检测发光器件混色的装置,其特征在于,发光器件设置有发光区和背材区,所述装置包括:机台,所述发光器件固定设置在所述机台上;激励光源,设置于所述机台的上方,照射所述发光器件,以激励该发光器件发光;有色光源,设置于所述机台的上方,照射所述发光器件,以滤除所述背材区产生的干扰光线;以及数字图形获取装置,设置于所述发光器件的上方,以获取并分析所述发光器件发光时的数字图形。
地址 201506 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室