一种基于ATE的FPGA器件测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种基于ATE的FPGA器件测试系统及方法，其中系统包括测试控制装置、波形转换装置和测试监显装置；所述测试控制装置控制激励控制信号通过波形转换装置输入到被测FPGA器件，FPGA器件接收激励控制信号，并根据所述激励控制信号输出相应的输出信号；所述波形转换装置将测试控制装置发出的激励信号转换为输入波形文件，并将波形文件传输到被测FPGA器件中；所述波形转换装置对输出信号进行转换为波形信号；所述测试监显装置对波形信号进行输出和显示，并将输出的波形信号与预期波形信号进行比对，输出比对结果。本发明实现一种高可靠且精度能达到纳秒以上的物理测试平台。

主权项

一种基于ATE的FPGA器件测试系统，其特征在于，包括测试控制装置、波形转换装置和测试监显装置；所述测试控制装置控制激励控制信号通过波形转换装置输入到被测FPGA器件，FPGA器件接收激励控制信号，并根据所述激励控制信号输出相应的输出信号；所述波形转换装置将测试控制装置发出的激励信号转换为输入波形文件，并将波形文件传输到被测FPGA器件中；所述波形转换装置对输出信号进行转换为波形信号；所述测试监显装置对波形信号进行输出和显示，并将输出的波形信号与预期波形信号进行比对，输出比对结果。