发明名称 |
基于波导多谐基片集成振腔法的介质基片测量装置及方法 |
摘要 |
本发明介质基片特性测量领域,具体为基于波导多谐基片集成振腔法的介质基片测量装置,包括标准W频段金属馈电波导和N个谐振腔;其特征在于,所述N个谐振腔形状为正方形,从左往右呈“一”字排列、其谐振频率按照固定频率间隔依次递减。其测量方法采用矢量网络分析仪通过馈电同轴与标准金属波导的馈电端口进行连接,通过记录下的矢量网络分析仪上的S参数数据,史密斯圆图数据,通过公式对无载谐振频率f<sub>110</sub>进行计算,然后通过仿真软件HFSS本征模式仿真从f<sub>110</sub>得到介质的介电常数ε<sub>r</sub>和tanδ的值。本发明提供的装置和方法能够在很宽的一个频带内对介质基片的介电常数和损耗角正切值进行高精度的测量。 |
申请公布号 |
CN104865449A |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201510268077.1 |
申请日期 |
2015.05.25 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
程钰间;刘小亮;吴杰;薛飞 |
分类号 |
G01R27/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/26(2006.01)I |
代理机构 |
电子科技大学专利中心 51203 |
代理人 |
李明光 |
主权项 |
基于波导多谐基片集成振腔法的介质基片测量装置,包括标准W频段金属馈电波导和N个谐振腔;其特征在于,所述N个谐振腔形状为正方形,从左往右呈“一”字排列、其谐振频率按照固定频率间隔依次递减。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |