发明名称 |
掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统及方法 |
摘要 |
本发明提供一种掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统及方法,该系统包括:传送装置,用于使单穗玉米果穗呈竖直状态依次掉落;与传送装置连接的图像采集装置,用于采集掉落的单穗玉米果穗全方位图像;与图像采集装置连接的处理装置,用于控制图像采集装置采集单穗玉米果穗的全方位图像,以及获取图像采集装置采集的单穗玉米果穗的全方位图像,将其进行拼合,根据全方位图像的视差进行三维空间坐标的计算,对单穗玉米果穗的空间分布信息进行还原,从而计算得到单穗玉米果穗的穗部性状参数。上述系统能实现无损测量玉米果穗的穗部考种性状和穗选性状的参数,测量速度快,测量结果更精确,成本更低,效率更高。 |
申请公布号 |
CN104865259A |
申请公布日期 |
2015.08.26 |
申请号 |
CN201510229679.6 |
申请日期 |
2015.05.07 |
申请人 |
中国农业大学 |
发明人 |
马钦;王越;周金辉;海;张晓东;郭浩;李绍明;刘哲;张帆 |
分类号 |
G01N21/84(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/84(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
李相雨 |
主权项 |
一种掉落式玉米果穗穗部全息性状快速测量系统,其特征在于,包括:传送装置,用于使单穗玉米果穗呈竖直状态依次掉落;与所述传送装置连接的图像采集装置,用于采集掉落的单穗玉米果穗全方位图像;与所述图像采集装置连接的处理装置,用于控制所述图像采集装置采集单穗玉米果穗的图像,以及获取所述图像采集装置采集的单穗玉米果穗的全方位图像,将所述全方位图像进行拼合,根据所述全方位图像的视差进行三维空间坐标的计算,对所述单穗玉米果穗的空间分布信息进行还原,从而计算得到所述单穗玉米果穗的穗部性状参数。 |
地址 |
100193 北京市海淀区圆明园西路2号 |