发明名称 一种泄漏双包层光纤中包层光的方法
摘要 一种泄漏双包层光纤中包层光的方法,本发明涉及泄漏双包层光纤中包层光的方法。本发明要解决现有泄漏双包层光纤中包层光的方法或存在导致光纤温度急剧上升,甚至烧毁光纤,或存在泄漏包层光的效率较低,或存在需要高精度的控制和较为复杂的制作过程的问题。方法:一、泄漏段的选择;二、化学试剂腐蚀泄漏;三、涂覆高折射率固化胶泄漏,即完成泄漏双包层光纤中包层光的方法。本发明用于一种泄漏双包层光纤中包层光的方法。
申请公布号 CN104865638A 申请公布日期 2015.08.26
申请号 CN201510319764.1 申请日期 2015.06.11
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 鞠有伦;张振国;杨超;戴通宇
分类号 G02B6/036(2006.01)I;G02B6/26(2006.01)I 主分类号 G02B6/036(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 侯静
主权项 一种泄漏双包层光纤中包层光的方法,其特征在于一种泄漏双包层光纤中包层光的方法是按照以下步骤进行的:一、泄漏段的选择:在双包层光纤上选择一段为泄漏段,泄漏段内包含化学试剂腐蚀泄漏段及高折射率固化胶泄漏段,沿着光在双包层光纤中的传播方向,光首先经过化学试剂腐蚀泄漏段,然后经过高折射率固化胶泄漏段;二、化学试剂腐蚀泄漏:首先将化学试剂腐蚀泄漏段的涂覆层和外包层剥除,裸露出内包层,然后将化学试剂腐蚀泄漏段裸露出内包层的双包层光纤置于中腐蚀试剂中,腐蚀20min~40min,得到含有化学试剂腐蚀泄漏段的双包层光纤;所述的腐蚀试剂为可腐蚀SiO<sub>2</sub>的试剂;三、高折射率固化胶泄漏:将高折射率固化胶泄漏段的涂覆层和外包层剥除,裸露出内包层,然后用高折射率固化胶涂覆高折射率固化胶泄漏段裸露出的内包层,固化,得到含有化学试剂腐蚀泄漏段及高折射率固化胶泄漏段的双包层光纤,即完成泄漏双包层光纤中包层光的方法。
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