发明名称 晶片检测座
摘要
申请公布号 TWI497080 申请公布日期 2015.08.21
申请号 TW102135887 申请日期 2013.10.03
申请人 芯成科技股份有限公司 发明人 黄以碧;吴传祺;蔡莹骏
分类号 G01R1/04;G01R31/28 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人 吴宏亮 台中市南屯区永春东一路549号3楼;刘绪伦 台中市南屯区永春东一路549号3楼
主权项 一种晶片检测座,包含有:一检测台,该检测台具有一台面,该台面上设有一检测区,该检测区的侧边设有一定位挡墙,该检测区的台面上设有复数的凸起,凸起与凸起之间形成凹部;一第一定位件,设于该检测台的一侧边,可以在靠近与远离该检测台的二位置间移动,该第一定位件包含有至少一顶柱,该第一定位件朝该检测台移动时该顶柱可以伸至该检测台的台面上并且朝该定位挡墙靠近,其中,该检测台的一侧设有二导轨,该第一定位件穿设于该二导轨上可沿该二导轨移动;一第二定位件,设于该检测台的一侧边,可以在靠近与远离该检测台的二位置间移动,该第二定位件包含有至少一顶柱,该第二定位件朝该检测台移动时该顶柱可以伸至该检测台的台面上并且朝该定位挡墙靠近。
地址 新竹县竹北市中和街62巷17弄1号