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经营范围
发明名称
用于校准高温计的设备
摘要
申请公布号
TWI497042
申请公布日期
2015.08.21
申请号
TW103103571
申请日期
2014.01.29
申请人
AP系统股份有限公司
发明人
池尙炫
分类号
G01J5/00
主分类号
G01J5/00
代理机构
代理人
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
一种用于校准高温计的设备,包括:黑体,其包括辐射空间,辐射能量从所述辐射空间辐射;主体外壳,其经配置以在其中接纳所述黑体,且包括光输出壁,所述光输出壁具有与所述辐射空间连接的光输出埠;光输出壁保护盖,其包括透明阻挡板,所述透明阻挡板安置于与所述光输出埠相对的位置处用以透射范围介于5μm到20μm的长波长,且经配置以与所述主体外壳的所述光输出壁耦合;以及固定部件,其经配置以将所述光输出壁保护盖固定到所述主体外壳的所述光输出壁。
地址
南韩
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