| 主权项 |
一种晶片自动检测系统，包含有一旋转座、复数检测机、一供料机、一出料机以及一晶片取放机，其中：该复数检测机设于该旋转座上，可随该旋转座转动，各检测机包含有一探针座以及一检测台，该探针座的底面设有探针；该供料机设于该旋转座的一侧，该供料机具有一承座该承座上可设置放置晶片的承盘；该出料机设于该旋转座的一侧，该出料机具有一承座该承座上可设置放置晶片的承盘；该晶片取放机，设于该旋转座的一侧，该晶片取放机具有二支臂，该二支臂上分别设有一取物头，用于拿取晶片；其中该检测台顶面设有一挡墙，该挡墙具有一第一段以及一第二段，该第一段与第二段间夹一角度；其中相对于该挡墙的第一段，该检测台于其侧边设有一第一定位件，该第一定位件可于一靠近该检测台的位置以及一远离该检测台的位置间移动，相对于该挡墙的第二段，该检测台于其侧边设有一第二定位件，该第二定位件可于一靠近该检测台的位置以及一远离该检测台的位置间移动；其中该第一定位件及第二定位件各包含有至少一顶柱；其中该检测台顶面对应该第一定位件与该第二定位件的顶柱的位置分别设有凹沟，该第一定位件的顶柱与该第二定位件的顶柱分别位于对应的凹沟处。
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