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一种用以程式化探针卡之方法，该探针卡包含对于被组配来控制积体电路(IC)之测试的外部测试器的通道连接器，该探针卡进一步包含用以接触该IC之复数个探针，该方法包含：当该探针卡透过该通道连接器连接至位在该探针卡外部之该外部测试器时，自该探针卡外部的资源提供一连接码至该探针卡上之记忆体，该连接码对于该等探针指明该等通道连接器之连接的一特定形式；当该探针卡透过该通道连接器连接至该外部测试器时，自该探针卡上之该记忆体提供该连接码至该探针卡上之一可程式化控制器，其中该可程式化控制器之输入系连接至该等通道连接器，以及该可程式化控制器之输出系连接至该等探针，该可程式化控制器系可程式化来选择性地以不同形式连接该等输入及输出；以及当该探针卡透过该通道连接器连接至该外部测试器时，为响应该记忆体中之该连接码，该可程式化控制器于其内部选择性地建立该可程式化控制器之该等输入及输出间的连接形式，此连接形式对应由该记忆体中之该连接码所指明的该特定形式，其中该可程式化控制器以该记忆体中之该连接码所指明的该特定形式来选择性地连接该等通道连接器至该等探针，其中该可程式化控制器包含一可程式化切换矩阵，该方法进一步包含于该等IC之测试期间部分地重新配置
该可程式化切换矩阵。
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